Home
Notizie
Traduzione
Progetto
Forum
Aiuto
Utenti
Login
Registrati
. .
•Profilo
kazandibi00
▪▪Tutte le traduzioni
•Traduzioni richieste
•
Traduzioni preferite
•Lista dei progetti
•Posta in Arrivo
▪Scambi linguistici gratuiti
•English
•Türkçe
•Français
•Español
▪▪Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Tutte le traduzioni
Cerca
Tutte le traduzioni - kazandibi00
Cerca
Lingua originale
Lingua di destinazione
Risultati 1 - 2 su circa 2
1
411
Lingua originale
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Traduzioni completate
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1